P1000 相位延遲測量儀核心技術獲國家技術發明二等獎

我司參與起草國家標準《GB/T 26827-2011 波片相位延遲測量裝置的校準方法》

LP1000相位延遲測量儀是鐳測可溯源雙折射測量主力機型，主要用于精密標定，可精準測量各類光學元件的內應力與相位延遲量。

適配光學波片、光學玻璃、顯示屏面板、晶體等透光材料檢測，系統配套專業位移平臺、溫度補償模塊，可定制非標掃描測量方案。

五大核心產品優勢

基準可溯源：測量量值溯源至激光波長國家長度基準，數據可計量、可校驗，解決傳統設備無校準依據痛點；

全域測量范圍：覆蓋 0°~180°全區間相位延遲，大小應力、高低相位差均可精準檢測；

多波長換算適配：633nm 標準測量波長下，可自動換算任意目標波長對應的波片相位差值；

弱透光件兼容：可完成透光性較差光學元件的應力、相位延遲檢測，適用材料范圍更廣；

高精度溫度補償：內置溫度傳感系統，實時采集樣品溫度，自動修正溫度帶來的波片相位誤差；

精準硬件參數指標

應用領域

1. 光學波片精密檢測

四分之一波片、半波片、全波片、3/4 波片相位延遲批量標定與出廠質檢，科研院所波片研發校準。

2. 光學晶體 / 寶石檢測

各類人工晶體、天然寶石內部應力分布、相位延遲定量分析。

配套服務

計量校準：整機年度計量校準服務，匹配國標 GB/T 26827-2011 校驗規范；

技術支持：上門安裝調試、操作人員培訓、售后遠程技術指導；

精度升級：可按需定制更高重復精度機型。